普通碳支持膜是在方华膜的基础上镀上了一层大概厚度为100nm左右的碳层，碳层的抗热性和导电性弥补了无碳方华膜的核电效应以及热效应，增强了膜整体的稳定性，适合大多数纳米材料和生物样品的一般形貌观察。

纯碳膜是在普通碳支持膜的基础之上，将载网上的方华膜用特殊方法除去后得到的纯碳膜。

微栅是在制作支持膜时特意在膜上制作出微孔，适用于高分辨电镜观察

超薄微栅膜（超薄碳膜）是在微栅的微孔上增加了一层更薄的碳膜（一般厚度为3-5nm左右），适用于10nm以下样品的高分辨电镜观察。

氮化硅支持膜极其稳定可抵抗温度变化上升至1000摄氏度，纳米粒子和细胞样品可直接在支持膜上进行操作。

Quantifoil多孔碳支持膜是精密排列的有各种尺寸、形状网孔的多孔碳支持膜。

在透射电镜观察下坐标载网支持膜可以确定样品的大致位置，使样品很方便的进行观察或监测，重复观察某一样品时更加方便。

双联碳支持膜，主要适合颗粒较大，附着力差的样品，对受电子轰击时容易漂移的样品以及必须在电镜下观察的磁性材料样品非常有效。

氧化硅薄膜窗格可应用于各种样品制备技术。

方华膜，上面没有任何镀层物质